Quel est le LID et le LeTID qui viendrait dégrader le rendement photovoltaïque sur des panneaux DualSun ?
Qu’est-ce que le LID?
Le LID désigne la dégradation des cellules solaires photovoltaïques induite par une exposition prolongée à des radiations solaires importantes.
Qu’est-ce que le LETID?
Moins connu et reconnu que le LID, le LeTID (Light and elevated Temperature Induced Degradation) est une forme de dégradation des cellules solaires photovoltaïques liée à l’exposition combinée et prolongée à des radiations et des températures élevées.
Comment se comportent les panneaux DualSun vis à vis du LID ?
Le test LID décrit selon le standard IEC 63202-1 s’applique au cellules photovoltaïques et non aux panneaux. Pour les panneaux, il y a le test de stabilisation.
Les panneaux solaires de DualSun sont certifiés IEC 2016. Dans ce cadre, ils ont passé avec succès les tests de l’IEC 61215-1 qui comprennent le test de stabilisation (MQT 19).
Lors de ce test les panneaux sont soumis à une irradiation de 1000W/m², leur température doit être de 50°C +/-10°C, et sont en fonctionnement MMPT.
Des mesures de puissance successives permettent de suivre l’évolution des performances des panneaux dans ces conditions.
Ce test confirme que les performances de panneaux DualSun se stabilisent très rapidement une fois exposé aux radiations solaires. Pour exemple lors de nos certifications, un module de 300wp flashé initialement à 304,5wc se stabilise à 303,5wc.
Comment se comportent les panneaux DualSun vis à vis du LeTID?
À ce jour il n’existe pas de cadre réglementaire ou de norme couvrant le LeTID. C’est une des raisons pour lesquelles
Avec l’avancement de la recherche sur la caractérisation de ce phénomène et l’évolution de la norme des tests normatifs verront le jour et permettront de mieux caractériser la sensibilité de chaque panneau au LeTID.
Cependant, même si cela n’est pas encore quantifiable officiellement, le fait de refroidir les panneaux DualSun Spring grâce à un échangeur thermique doit avoir un impact positif sur le LeTID.
